%0 Journal Article
%T 基于独立分量分析的光电耦合器件可靠性时域筛选方法
%A 周求湛
%A 张苑
%A 孙玉晶
%A 张贺彬
%A 谢宁
%J 吉林大学学报(工学版)
%P 1242-1247
%D 2008
%X 针对目前光电耦合器件可靠性筛选方法的不足，提出了用独立分量分析(ICA)的方法对噪声信号进行时域分析，并利用ICA中峭度和熵两个参量讨论了各种基本噪声的特性。根据这些特性，应用ICA方法把各基本噪声从噪声信号中分离出来，并给出了时域下器件的可靠性分类规则。
%K 半导体技术
%K 光电耦合器件
%K 可靠性
%K 低频噪声
%K 时域分析
%K 独立分量分析
%K 虚拟仪器
%K 半导体技术
%K 光电耦合器件
%K 可靠性
%K 低频噪声
%K 时域分析
%K 独立分量分析
%K 虚拟仪器
%U http://xuebao.jlu.edu.cn/gxb/CN/Y2008/V38/I05/1242