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ISSN: 2333-9721
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材料工程  1986 

电感耦合等离子体发射光谱在贵金属材料分析中的应用

, PP. 39-41

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贵金属铂、钯中杂质元素的分析,一般采用直流电弧发射光谱测定,但其中微量硅的分析,目前尚无方法;铂铱合金中杂质元素的分析,也未建立方法.

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