%0 Journal Article
%T 电感耦合等离子体发射光谱在贵金属材料分析中的应用
%A 黄兴灵
%A 王宝如
%A 居志宏
%J 材料工程
%P 39-41
%D 1986
%X 贵金属铂、钯中杂质元素的分析,一般采用直流电弧发射光谱测定,但其中微量硅的分析,目前尚无方法;铂铱合金中杂质元素的分析,也未建立方法.
%U http://jme.biam.ac.cn/CN/Y1986/V0/I2/39