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ISSN: 2333-9721
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化学学报  1996 

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合化学衍生法分析杂环新化合物的结构

, PP. 802-806

Keywords: 咪唑,P,杂环化合物,硫氰酸,P,飞行时间质谱法

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Abstract:

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析了难挥发的杂环新化合物咪唑啉硫氰酸盐及其三种衍生物,确认出很强的氢离化及银离化准分子离子峰,通过对各种衍生物谱图的对照分析,确认出较强的含有结构特征的碎片离子峰,并对该化合物在离子轰击下的裂解规律作了分析,支持了对该新化合物结构的鉴定。

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