%0 Journal Article
%T 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合化学衍生法分析杂环新化合物的结构
%A 邓朝辉
%A 宗祥福
%A 任平达
%A 董庭威
%J 化学学报
%P 802-806
%D 1996
%X 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析了难挥发的杂环新化合物咪唑啉硫氰酸盐及其三种衍生物,确认出很强的氢离化及银离化准分子离子峰,通过对各种衍生物谱图的对照分析,确认出较强的含有结构特征的碎片离子峰,并对该化合物在离子轰击下的裂解规律作了分析,支持了对该新化合物结构的鉴定。
%K 咪唑
%K P
%K 杂环化合物
%K 硫氰酸
%K P
%K 飞行时间质谱法
%U http://sioc-journal.cn/CN/abstract/abstract334380.shtml