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ISSN: 2333-9721
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化学学报  2000 

基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱研究2:四硫富瓦烯化合物

, PP. 700-703

Keywords: 飞行时间质谱法,四硫富瓦烯,结构表征

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Abstract:

采用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱(MALDI-TOF-MS),对四硫富瓦烯化合物进行质谱表征。在所用的实验条件下,样品很容易解吸电离生成单电荷分子离子,得到单同位素分辨的质谱图。26种实际样品的质谱分析结果表明;MALDI-TOF-MS可以比其它质谱方法更有效、更方便地用于此类化合物的质谱分析,解决了此类化合物不易进行质谱鉴定的难题。

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