%0 Journal Article
%T 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱研究2:四硫富瓦烯化合物
%A 熊少祥
%A 辛斌
%A 王光辉
%A 刘国诠
%J 化学学报
%P 700-703
%D 2000
%X 采用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱(MALDI-TOF-MS)，对四硫富瓦烯化合物进行质谱表征。在所用的实验条件下，样品很容易解吸电离生成单电荷分子离子，得到单同位素分辨的质谱图。26种实际样品的质谱分析结果表明；MALDI-TOF-MS可以比其它质谱方法更有效、更方便地用于此类化合物的质谱分析，解决了此类化合物不易进行质谱鉴定的难题。
%K 飞行时间质谱法
%K 四硫富瓦烯
%K 结构表征
%U http://sioc-journal.cn/CN/abstract/abstract336074.shtml