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ISSN: 2333-9721
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金属学报  2001 

低辐射薄膜TiO2-Ag-TiO2-SiO的纳米尺度显微结构

, PP. 337-339

Keywords: 低辐射薄膜,微观结构,HREM,纳米束分析

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Abstract:

成功地制备了TiO2-Ag-TiO2-SiO超薄多层膜的截面样品,并对其微观结构进行TEM,HREM及纳米束EDS分析.结果表明,薄膜各层厚度均匀,界面明锐、光滑.Ag层由纳米晶组成,而TiO2和SiO层为非晶.Ag在膜层中没有扩散或聚团,这也正是保证整个薄膜性能指标的一个重要因素.

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