%0 Journal Article
%T 低辐射薄膜TiO2-Ag-TiO2-SiO的纳米尺度显微结构
%A 詹倩
%A 于荣
%A 贺连龙
%A 李斗星
%A 郭晓楠
%J 金属学报
%P 337-339
%D 2001
%X 成功地制备了TiO2-Ag-TiO2-SiO超薄多层膜的截面样品,并对其微观结构进行TEM,HREM及纳米束EDS分析.结果表明,薄膜各层厚度均匀,界面明锐、光滑.Ag层由纳米晶组成,而TiO2和SiO层为非晶.Ag在膜层中没有扩散或聚团,这也正是保证整个薄膜性能指标的一个重要因素.
%K 低辐射薄膜
%K 微观结构
%K HREM
%K 纳米束分析
%U http://www.ams.org.cn/CN/Y2001/V37/I4/337