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OALib Journal期刊
ISSN: 2333-9721
费用：99美元
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用正电子湮没技术研究Zr对Ni_3Al缺陷态的影响
, PP. 238-240
Keywords: 正电子湮没,Ｎｉ_３Ａｌ,Ｚｒ,缺陷态
Abstract:
本文用正电子湮没技术（ＰＴＡ）研究了含不同ｚｒ量多晶Ｎｉ３Ａｌ的ｅ＋寿命谱。结果表明在Ｎｉ３Ａｌ中加入Ｚｒ，一部分Ｚｒ原子进行原子替位，使晶格发生畸变，导致基体中正电子寿命（τ_１）增长；另一部分在晶界偏聚的Ｚｒ调整了晶界结构，使平均寿命（τ）下降。当Ｚｒ量为１．２ａｔ．－％时，缺陷态的寿命τ２显著增长，表明有自由体积较大的缺陷组态生成．
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