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OALib Journal期刊
ISSN: 2333-9721
费用：99美元
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低温下含Zn,Ag或Sc的8090合金正电子寿命谱分析
, PP. 91-96
Keywords: ８０９０合金,正电子湮没寿命,低温,缺陷,Ｚｒ,Ａｇ,Ｓｃ
Abstract:
在２５—２７５Ｋ范围内，测量了正电子在８０９０合金和含Ｚｎ，Ａｇ或Ｓｃ的８０９０合金的湮没寿命．结果表明，τ１＝１７５—１８７ｐｓ是典型的正电子在共格粒子δ＇（Ａｌ３Ｌｉ）上的湮没寿命；τ２对温度Ｔ有明显的依赖关系．只要同时考虑空位、晶界对τ２的影响，就可以很好地对这四种样品的τ２－Ｔ曲线作出解释，并可对空位的存在形式作出推断．
| [1] | 1蒋晓军．博士学位论文,中国科学院金属研究所,19932KirkegardP,EldrupM．ComputPhysCommum,1974;7:4013郁伟中．正电子湮没寿命谱仪．北京:清华大学出版社,19894 DludekG,KrauseS,KrauseH,BeresinaAL,MikhalenkovVS,ChuistovKV．JPhys:CondensMatter,1992:4:63175JdelRio,NdeDiego,DFink．JPhys:CondensMatter,1989;1:44416蒋晓军,邓文,桂全红,李依依,熊良钺,师昌绪．金属学报,1993;29:A5287DlubekG,KrauseH,KrauseS,LademannP．MaterSciForum,1992,105:9778夏元复,倪新伯,彭郁卿．实验核物理应用方法．北京:科学出版社,19899 邓 文,熊良钺,龙期威,王淑荷,郭建亭．金属学报,1992;28:A442
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