%0 Journal Article
%T 低温下含Zn,Ag或Sc的8090合金正电子寿命谱分析
%A 高英俊
%A 吴伟明
%A 冯冠之
%A 许少杰
%A 阮向东
%J 金属学报
%P 91-96
%D 1995
%X 在２５—２７５Ｋ范围内，测量了正电子在８０９０合金和含Ｚｎ，Ａｇ或Ｓｃ的８０９０合金的湮没寿命．结果表明，τ１＝１７５—１８７ｐｓ是典型的正电子在共格粒子δ＇（Ａｌ３Ｌｉ）上的湮没寿命；τ２对温度Ｔ有明显的依赖关系．只要同时考虑空位、晶界对τ２的影响，就可以很好地对这四种样品的τ２－Ｔ曲线作出解释，并可对空位的存在形式作出推断．
%K ８０９０合金
%K 正电子湮没寿命
%K 低温
%K 缺陷
%K Ｚｒ
%K Ａｇ
%K Ｓｃ
%U http://www.ams.org.cn/CN/Y1995/V31/I14/91