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Keywords: 可测性设计,边界扫描,系统级测试,雷达,BIT
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研究雷达机内自测试BIT的实现及雷达系统级测试。依据结构可测性设计方法,采用可编程逻辑器件设计电路板级测试单元,把芯片级边界扫描扩展到雷达系统级测试,并将该方法应用到雷达信号处理机中,给出了板级边界扫描结构和系统级测量试的组成结构。
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