%0 Journal Article
%T 雷达系统级测试的边界扫描方法
%J 北京理工大学学报
%D 2000
%X 研究雷达机内自测试ＢＩＴ的实现及雷达系统级测试。依据结构可测性设计方法，采用可编程逻辑器件设计电路板级测试单元，把芯片级边界扫描扩展到雷达系统级测试，并将该方法应用到雷达信号处理机中，给出了板级边界扫描结构和系统级测量试的组成结构。
%K 可测性设计
%K 边界扫描
%K 系统级测试
%K 雷达
%K BIT
%U http://journal.bit.edu.cn/zr/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20000268&flag=1