高精度热电离质谱法测定铟同位素

本文系统研究了高精度热电离质谱测定铟同位素的方法,采用磷酸涂样技术,获得了强而稳定的In+离子流,5种锢试剂中的平均113In/115In比值为0.044804±0.000055(2SD),由此比值计算的铟原子量为114.8185(2)比现行的114.82更为精密。