%0 Journal Article
%T 高精度热电离质谱法测定铟同位素
%A 肖应凯
%A 王蕴慧
%A 祁海平
%A 金琳
%J 分析化学
%P 458-460
%D 1992
%X 本文系统研究了高精度热电离质谱测定铟同位素的方法,采用磷酸涂样技术,获得了强而稳定的In+离子流,5种锢试剂中的平均113In/115In比值为0.044804±0.000055(2SD),由此比值计算的铟原子量为114.8185(2)比现行的114.82更为精密。
%K 量同位素
%K 热电离
%K 铟原子量
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract8583.htm