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ISSN: 2333-9721
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分析化学  1998 

三波长K系数分光光度法同时测定痕量磷、砷、硅

, PP. 1163-1163

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Abstract:

以碱性染料光度法同时测定磷、砷、硅已有报道,但需加入掩蔽剂或经还原-萃取等分离。本文用三波长K系数法原理,由计算机选出最佳波长组合,不经分离、掩蔽,于一份试液中同时测定痕量磷、砷、硅,其线性范围分别为40.0~240.0μg/L、32.0~120.0μg/L、32.0~320.0μd/L.用于合成样品测定,结果令人满意。

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