%0 Journal Article
%T 三波长K系数分光光度法同时测定痕量磷、砷、硅
%A 王佩玉
%A 刁国旺
%A 蔡蕃
%J 分析化学
%P 1163-1163
%D 1998
%X 以碱性染料光度法同时测定磷、砷、硅已有报道,但需加入掩蔽剂或经还原-萃取等分离。本文用三波长K系数法原理,由计算机选出最佳波长组合,不经分离、掩蔽,于一份试液中同时测定痕量磷、砷、硅,其线性范围分别为40.0～240.0μg/L、32.0～120.0μg/L、32.0～320.0μd/L.用于合成样品测定,结果令人满意。
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract2610.htm