普通X-射线荧光光谱仪分辨率的改善
, PP. 636-640
Keywords: X射线荧光光谱仪,化学态分析,限制垂直发散准直器
Abstract:
作者为改善普通X-射线荧光光谱仪的分辨率和谱线的低能拖尾现象,于PW1404谱仪上加了可拆卸的限制垂直发散准直器(6.5×20×50mm,片间距0.65mm).实验结果表明:加了限制垂直发散准直器后,谱仪相对分辨率提高10%,谱仪非对称因子由1.4～1.5改善为1.0～1.18.为普通X-射线谱仪用于化学态分析提供了更为有利的条件.
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