%0 Journal Article
%T 普通X-射线荧光光谱仪分辨率的改善
%A 吉昂
%A 刘红超
%A 石琼
%A 陶光仪
%J 分析化学
%P 636-640
%D 1994
%X 作者为改善普通X-射线荧光光谱仪的分辨率和谱线的低能拖尾现象,于PW1404谱仪上加了可拆卸的限制垂直发散准直器(6.5×20×50mm,片间距0.65mm).实验结果表明:加了限制垂直发散准直器后,谱仪相对分辨率提高10%,谱仪非对称因子由1.4～1.5改善为1.0～1.18.为普通X-射线谱仪用于化学态分析提供了更为有利的条件.
%K X射线荧光光谱仪
%K 化学态分析
%K 限制垂直发散准直器
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract7715.htm