X光荧光光谱中影响系数的自洽校正法测定及应用

在X光荧光光谱分析中,经验系数法的元素间的影响系数αij一般是在二元体系中求得的,这有两个缺点(1)费时;(2)二元体系的αij用于多元体系,要引入误差。R.Tertian在1979年对他提出自洽校正方法进行了改进。本文又对R.Tertian的方法加以改进,使得用n+3个标样,测n(n+3)次强度值,可得到n(n-1)个αij系数。