%0 Journal Article
%T X光荧光光谱中影响系数的自洽校正法测定及应用
%A 吴明嘉
%A 纪杉
%J 分析化学
%P 1123-1126
%D 1987
%X 在X光荧光光谱分析中,经验系数法的元素间的影响系数αij一般是在二元体系中求得的,这有两个缺点(1)费时;(2)二元体系的αij用于多元体系,要引入误差。R.Tertian在1979年对他提出自洽校正方法进行了改进。本文又对R.Tertian的方法加以改进,使得用n+3个标样,测n(n+3)次强度值,可得到n(n-1)个αij系数。
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract10020.htm