电感耦合等离子体发射光谱用于高TC超导薄膜的分析

本文叙述了用ICP-AES法测定高Tc超导薄膜化学组成的方法。此法直接测出的是各被测元素的原子比,无须称量与准确稀释试样。方法简便、快速、用样量少(几十至几百微克)。分析了Bi-Sr-Ca-Cu-O及Tl-Ba-Ca-Cu-O超导薄膜。此法也可用于Y-Ba-Cu-O、Sr-La-Cu-O等薄膜的分析。