%0 Journal Article
%T 电感耦合等离子体发射光谱用于高TC超导薄膜的分析
%A 赵玉珍
%J 分析化学
%P 769-772
%D 1990
%X 本文叙述了用ICP-AES法测定高Tc超导薄膜化学组成的方法。此法直接测出的是各被测元素的原子比,无须称量与准确稀释试样。方法简便、快速、用样量少(几十至几百微克)。分析了Bi-Sr-Ca-Cu-O及Tl-Ba-Ca-Cu-O超导薄膜。此法也可用于Y-Ba-Cu-O、Sr-La-Cu-O等薄膜的分析。
%K 电感耦合等离子体发射光谱
%K 超导薄膜
%K 铋-锶-钙-铜-氧分析
%K 铊-钡-钙-铜-氧分析
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract9195.htm