全部 标题 作者
关键词 摘要

OALib Journal期刊
ISSN: 2333-9721
费用:99美元

查看量下载量

相关文章

更多...

移位损伤剂量模型及其应用

, PP. 132-137

Keywords: 移位损伤,非电离能量损失,光电器件,电荷传输效率,暗电流

Full-Text   Cite this paper   Add to My Lib

Abstract:

首先描述了移位损伤的机理及其影响器件性能的机制,引入了适合航天器工程抗辐射加固设计使用的移位损伤剂量模型,探讨了其在CCD器件电荷传输效率CTE,Si器件平均暗电流以太阳电池阵输出功率等工程参数衰降中的应用,介绍了建立的基于移位损伤剂量模型的空间环境中CCD器件CTE衰降预测模式,其结果与欧空局空间环境信息系统的计算结果相吻合.该程序在光电器件抗辐射加固设计中具有重要的应用价值.

Full-Text

Contact Us

service@oalib.com

QQ:3279437679

WhatsApp +8615387084133