液--液界面双电层统计力学处理
, PP. 180-185
Keywords: ITIES,界面双电层,内层微分电容,统计力学,巨正则系综
Abstract:
应用巨正则系综统计法处理液／液界面（ＩＴＩＥＳ）双电层体系。根据ＭＶＮ模型，假定溶液中离子可穿入界面内层（定向溶剂分子层），由体系（内层）巨正则配分函数导出内层微分电容（Ｃ１）统计表达式，拟合计算Ｃ１随该层表面电荷密度（σｍ）变化关系。理论同时表明，Ｃ１与σｍ涨落存在确定关系
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