%0 Journal Article
%T 液--液界面双电层统计力学处理
%A 吴金添
%J 电化学
%P 180-185
%D 1996
%X 应用巨正则系综统计法处理液／液界面（ＩＴＩＥＳ）双电层体系。根据ＭＶＮ模型，假定溶液中离子可穿入界面内层（定向溶剂分子层），由体系（内层）巨正则配分函数导出内层微分电容（Ｃ１）统计表达式，拟合计算Ｃ１随该层表面电荷密度（σｍ）变化关系。理论同时表明，Ｃ１与σｍ涨落存在确定关系
%K ITIES
%K 界面双电层
%K 内层微分电容
%K 统计力学
%K 巨正则系综
%U http://electrochem.xmu.edu.cn/CN/abstract/abstract9659.shtml