工业X射线透视成像中的散射及其校正

？本文以实验为基础研究了工业X射线散射对无损检测成像质量的影响、散射规律及其校正方法。通过研究散射系统的设计，用实验得出了射线散射随试件厚度的变化关系，修正了以往人们常用的散射模型，提出了指数幂散射模型，利用该模型对X射线散射用维纳滤波法进行了校正。实例表明，本法可以有效地抑制散射对成像质量的影响，使透视图像的空间分辨率与校正前相比提高了56%，取得了较好的校正效果。