%0 Journal Article
%T 工业X射线透视成像中的散射及其校正
%A 陈树越
%A 路宏年
%J 兵工学报
%P 163-166
%D 2004
%X ？本文以实验为基础研究了工业X射线散射对无损检测成像质量的影响、散射规律及其校正方法。通过研究散射系统的设计，用实验得出了射线散射随试件厚度的变化关系，修正了以往人们常用的散射模型，提出了指数幂散射模型，利用该模型对X射线散射用维纳滤波法进行了校正。实例表明，本法可以有效地抑制散射对成像质量的影响，使透视图像的空间分辨率与校正前相比提高了56%，取得了较好的校正效果。
%K 光学
%K 射线检测
%K 无损检测
%K 散射
%K 射线数字成像
%U http://118.145.16.231/jweb_bgxb/CN/abstract/abstract2934.shtml