全部 标题 作者 关键词 摘要
Keywords: 渗硅,扩散,膨胀,孔隙度,非金属夹杂(金属缺陷)
Full-Text Cite this paper Add to My Lib
根据金相显微镜、显微硬度计、X-射线衍射仪、离子微分析仪及精密膨胀仪的测试结果,认为渗硅层孔隙的成因,还与被渗材料中的非金属夹杂物和渗层中的内应力有关。由此,提高渗硅温度、延长渗硅保温时间,以及采用膨胀系数和渗层相近、无同素异构转变、体心立方晶格的金属材料作为被渗材料,可减少孔隙的数量和改善孔隙的形状。
Full-Text
Contact Us
service@oalib.com
QQ:3279437679
WhatsApp +8615387084133