纳米材料晶粒鉴定方法的研究

介绍用X射线衍射方法进行纳米材料鉴定的原理和方法 ,对谢乐公式的推导作了较为详细的说明 .为了验证该公式计算结果的正确与否 ,用透射电镜观测法作了直接对比 .