%0 Journal Article
%T 纳米材料晶粒鉴定方法的研究
%A 吴万国
%A 丁音琴
%A 黄清明
%J 福州大学学报(自然科学版)
%D 2003
%X 介绍用X射线衍射方法进行纳米材料鉴定的原理和方法 ,对谢乐公式的推导作了较为详细的说明 .为了验证该公式计算结果的正确与否 ,用透射电镜观测法作了直接对比 .
%K X射线
%K 纳米材料
%K 晶粒大小
%U http://xbzrb.fzu.edu.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20030118&flag=1