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力学与实践 1992
利用双面剥层X射线应力测定技术测量板状试样的残余应力分布DOI: 10.6052/1000-0992-1992-070, PP. 41-44 Abstract: 在具有矩形截面的平板或棒材的双面剥层X射线应力测定中,可以用幂级数来分段近似沿厚度方向变化的剥离面的实测应力曲线,从而计算剥层所产生的附加应力,求得原始真实应力沿厚度方向的分布.文中给出计算应力校正量的公式,并且用实测例说明,用项数不多的幂级数来近似实测应力曲线,就能得到足够高的近似程度,获得令人满意的校正结果.
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