%0 Journal Article
%T 利用双面剥层X射线应力测定技术测量板状试样的残余应力分布
%A 李家宝
%A 康增桥
%A 王中光
%J 力学与实践
%P 41-44
%D 1992
%R 10.6052/1000-0992-1992-070
%X 在具有矩形截面的平板或棒材的双面剥层X射线应力测定中,可以用幂级数来分段近似沿厚度方向变化的剥离面的实测应力曲线,从而计算剥层所产生的附加应力,求得原始真实应力沿厚度方向的分布.文中给出计算应力校正量的公式,并且用实测例说明,用项数不多的幂级数来近似实测应力曲线,就能得到足够高的近似程度,获得令人满意的校正结果.
%K X射线应力测定
%K 双面剥层
%K 残余应力分布
%U http://lxsj.cstam.org.cn/CN/abstract/abstract133904.shtml