全部 标题 作者 关键词 摘要
DOI: 10.6052/1000-0992-1996-1-J1996-009, PP. 107-113
Keywords: 高密度封装,多层膜,焊点,热疲劳寿命,应变幅
Full-Text Cite this paper Add to My Lib
分别从理论计算、实验研究和失效机理的研究等几个方面综述了微电子封装结构(主要包括多层膜,焊点及引线键合等结构)的热疲劳寿命预估研究领域的进展;并对今后该领域的发展方向进行了预测.
Full-Text
Contact Us
service@oalib.com
QQ:3279437679
WhatsApp +8615387084133