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ISSN: 2333-9721
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力学进展  1996 

封装结构的热疲劳寿命预估研究进展

DOI: 10.6052/1000-0992-1996-1-J1996-009, PP. 107-113

Keywords: 高密度封装,多层膜,焊点,热疲劳寿命,应变幅

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Abstract:

分别从理论计算、实验研究和失效机理的研究等几个方面综述了微电子封装结构(主要包括多层膜,焊点及引线键合等结构)的热疲劳寿命预估研究领域的进展;并对今后该领域的发展方向进行了预测.

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