应力下OsSi2电子结构和光学特性研究

采用基于第一性原理的密度泛函理论(DensityFunctionalTheory)赝势法,对各向同性形变下OsSi2的电子结构、态密度和光学性质进行了理论计算.计算结果表明,当晶格常数从96%,100%,104%依次进行各向同性形变时,OsSi2的带隙逐渐减小.当晶格参数被压缩到原来的96%时,OsSi2的间接带隙值Eg=0.928eV,当晶格参数被拉伸到原来的104%时,OsSi2的间接带隙值Eg=0.068eV.其光学特性曲线向低能方向漂移,晶格拉伸使得OsSi2的静态介电函数增大而压缩使其减小;晶格压缩可以使其吸收响应增强,进而提高光电转换效率.