全部 标题 作者 关键词 摘要
, PP. 1599-1599
Full-Text Cite this paper Add to My Lib
Inp热不稳定性是导致真空热淀积成膜失败的重要原因。虽然射频溅射法已成功制备了大量诸如GaAs,GaP和InAs等Ⅲ—V族化合物薄膜,但无Inp报道。我们首次以Inp晶体作靶,与磷共溅射成功淀积了符合配比的非晶Inp薄膜。本文进一步探讨淀积Inp膜的生长结构。
Full-Text
Contact Us
service@oalib.com
QQ:3279437679
WhatsApp +8615387084133