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ISSN: 2333-9721
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科学通报  1990 

溅射淀积Inp薄膜的结晶生长结构

, PP. 1599-1599

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Abstract:

Inp热不稳定性是导致真空热淀积成膜失败的重要原因。虽然射频溅射法已成功制备了大量诸如GaAs,GaP和InAs等Ⅲ—V族化合物薄膜,但无Inp报道。我们首次以Inp晶体作靶,与磷共溅射成功淀积了符合配比的非晶Inp薄膜。本文进一步探讨淀积Inp膜的生长结构。

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