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, PP. 2150-2153
Keywords: 电子能损效应,C60薄膜,快离子,退火效应
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用Raman散射技术分析了171.2MeVS9+和120keV的H+离子在C60薄膜中电子能损引起的效应,即晶态→非晶态转变.在H+离子辐照的情况下,发现电子能损有明显的退火效应,致使C60晶态→非晶态转变过程中,经过一个石墨化的中间过程.而在S9+离子辐照的情况下,电子能损的破坏作用超过了退火效应,不存在石墨化的中间过程.
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