二阶自相关过程Shewhart型控制图的性能评价
, PP. 619-622
Keywords: 统计过程控制,修正Shewhart,图,Shewhart,残差图,平均运行链长,自相关过程
Abstract:
针对二阶自相关过程,分别采用有限马氏链内嵌法和积分法给出了Shewhart型修正控制图和残差控制图平均运行链长的计算方法,并通过其数值结果的比较分析,得到结论:当自相关过程系数均为正值时,修正图的性能较好;当过程系数均取负值时,残差图较为适用;当过程系数符号相异时,两图性能可采用所给方法具体比较.该结论为控制图的选择和应用提供了理论依据.
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