%0 Journal Article
%T 二阶自相关过程Shewhart型控制图的性能评价
%A 孙秋霞
%A 高齐圣
%J 控制与决策
%P 619-622
%D 2011
%X 针对二阶自相关过程,分别采用有限马氏链内嵌法和积分法给出了Shewhart型修正控制图和残差控制图平均运行链长的计算方法,并通过其数值结果的比较分析,得到结论:当自相关过程系数均为正值时,修正图的性能较好;当过程系数均取负值时,残差图较为适用;当过程系数符号相异时,两图性能可采用所给方法具体比较.该结论为控制图的选择和应用提供了理论依据.
%K 统计过程控制
%K 修正Shewhart
%K 图
%K Shewhart
%K 残差图
%K 平均运行链长
%K 自相关过程
%U http://www.kzyjc.net:8080/CN/abstract/abstract10318.shtml