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ISSN: 2333-9721
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一种含SiO2氧化物玻璃的晶化温度-压力依赖关系

DOI: 10.11858/gywlxb.1990.04.003, PP. 254-258

Keywords: 高压力效应,离子导体,非晶态-晶态转变

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Abstract:

本文应用DTA及X射线衍射法在常压及高压下对一种含SiO2的锂离子导体玻璃0.3Li2O-0.67SiO2-0.03V2O5加热时的晶化行为进行了研究。该氧化物玻璃的晶化过程分两个阶段。在常压下,第一晶化过程发生在560℃附近,析出相为Li2O·2SiO2。对应的晶化温度Tx1随压力的升高发生了急剧的变化。从常压到0.3GPa,Tx1从560℃升高到620℃;继续升压时Tx1突然下降,并在0.4GPa处跌到528℃,呈现一个陡峭的峰值。0.4GPa以上,Tx1随压力的变化则呈常规行为,比较平稳地,大致线性地升高,一直到最高测定压力2GPa。本文最后对这些行为的可能原因进行了讨论。

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