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ISSN: 2333-9721
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科学通报  1992 

外延型全高T_c边缘结的制备与性能研究

Keywords: 高Tc,超导体,边缘结,磁控溅射

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Abstract:

约瑟夫森效应曾在以不同方法制备的高T_c超导弱连接中被观察到。虽然这些材料的相干长度较短,但其中的天然晶界使约瑟夫森器件的制备变得比较容易。不过,使用这些多晶的块材或薄膜制备的器件一般具有较大的噪声。实验表明,噪声源于多晶薄膜区的磁通蠕动(flux creeping)。因此,近年来随着优质的高T_c外延膜技术的成熟,人们对于在外延膜上

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