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ISSN: 2333-9721
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科学通报  1980 

SiC多型体的点阵象

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Abstract:

X射线衍射及电子衍射分析虽然可以给出很精确的晶体结构资料,但都是大量单胞的平均结果。利用电子显微镜的高分辨率。可以直接拍摄点阵象,揭示晶体点阵的周期性。一维点阵象能显示不同厚度的各种层状单元的堆垛顺序,特别适用于研究层状结构。例如,对于YSeF进行的X射线研究发现有8种多型体,由于只分离出3种多型体的单晶体,因此只能确定其中3种多型体的结构。用电子显微镜拍摄微晶的点阵象,不但确定了X射线已经发现的

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