%0 Journal Article
%T SiC多型体的点阵象
%A 叶恒强
%J 科学通报
%D 1980
%I 
%X X射线衍射及电子衍射分析虽然可以给出很精确的晶体结构资料,但都是大量单胞的平均结果。利用电子显微镜的高分辨率。可以直接拍摄点阵象,揭示晶体点阵的周期性。一维点阵象能显示不同厚度的各种层状单元的堆垛顺序,特别适用于研究层状结构。例如,对于YSeF进行的X射线研究发现有8种多型体,由于只分离出3种多型体的单晶体,因此只能确定其中3种多型体的结构。用电子显微镜拍摄微晶的点阵象,不但确定了X射线已经发现的
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=01BA20E8BA813E1908F3698710BBFEFEE816345F465FEBA5&cid=7C7E63796F062382A606A3A9833B8C05&jid=B40D4BA57FF46E45205A09B4DC283152&aid=DAEA5C18AE26B1F1&yid=E56875464B1C0EC1&vid=C5154311167311FE&iid=E158A972A605785F&sid=F260CE035846B3B8&eid=F260CE035846B3B8&journal_id=0023-074X&journal_name=科学通报&referenced_num=0&reference_num=0