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金属学报 2004
Study Of Al--O--N And Cr--O--N Films Deposited By Arc Ion Plating As Diffusion Barriers
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Abstract:
采用电弧离子镀方法在高温合金DSM11基材上沉积Al-O-N和Cr-O-N薄膜,研究了不同O2,N2流量对薄膜相结构的影响以及高温下DSM11/NiCoCrAlY,DSM11/Al-O-N/NiCoCrAlY和DSM11/Cr-O-N/NiCoCrAlY体系的元素互扩散行为。实验结果表明,Al(Cr)-O-N薄膜均为多晶膜,分别具有α-Al2O3 六方AlN和Cr2O3 CrN的相结构,随着N2,O2流量的改变,两相的相对含量发生变化。在1050℃下氧化100h后,Al-O-N层阻挡基体与涂层间元素互扩散的作用优于Cr-O-N层。扩散阻挡层对涂层的氧化动力学影响不大。