Review of Vacuum Degradation in Infrared Detector Micro-Dewar
红外微型杜瓦真空退化特性研究综述

分析了导致真空失效的漏放气因素。通过超高灵敏度检漏技术，可以严格控制漏气对真空寿命的影响。用功率形式的放气模型q(t)=q0(t/t0)-α描述了杜瓦真空夹层的放气率退化特性。用温度加速了杜瓦真空夹层内的真空退化进程。用阿列尼斯模型q=q0exp(-E/RT)描述了温度对材料放气率的影响。根据理论分析和放气率实验，可确定出加速因子。