%0 Journal Article
%T Review of Vacuum Degradation in Infrared Detector Micro-Dewar<br>红外微型杜瓦真空退化特性研究综述
%A ZHANG Ya-ping
%A LIU Xiang-yun
%A <br>张亚平
%A 刘湘云
%J 红外
%D 2013
%I 
%X 分析了导致真空失效的漏放气因素。通过超高灵敏度检漏技术，可以严格控制漏气对真空寿命的影响。用功率形式的放气模型q(t)=q0(t/t0)-α描述了杜瓦真空夹层的放气率退化特性。用温度加速了杜瓦真空夹层内的真空退化进程。用阿列尼斯模型q=q0exp(-E/RT)描述了温度对材料放气率的影响。根据理论分析和放气率实验，可确定出加速因子。
%K infrared detector
%K micro-dewar
%K vacuum life
%K outgassing mode
%K accelerated aging<br>红外探测器
%K 微型杜瓦
%K 真空寿命
%K 放气模型
%K 加速老化
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=3723000AE493FCE650601982177048B1&aid=D36BFBE6557A4FB9F037AFE7040D2114&yid=FF7AA908D58E97FA&vid=339D79302DF62549&iid=0B39A22176CE99FB&sid=F3090AE9B60B7ED1&eid=23CCDDCD68FFCC2F&journal_id=1672-8785&journal_name=红外&referenced_num=0&reference_num=0