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ISSN: 2333-9721
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红外  2003 

半导体器件的可靠性

Keywords: 半导体器件,可靠性数学,可靠性试验,失效分析,可靠性技术,质量控制

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Abstract:

可靠性技术是20世纪50年代发展起来的一门综合性技术,它包括可靠性数学、可靠性试验、失效分析、可靠性管理以及设计、生产和维护使用中的质量控制及可靠性保证等方面。本文对可靠性数学、可靠性试验、失效分析以及可靠性技术发展现状作一介绍。

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