%0 Journal Article
%T 半导体器件的可靠性
%A 刘大福
%J 红外
%D 2003
%I 
%X 可靠性技术是20世纪50年代发展起来的一门综合性技术,它包括可靠性数学、可靠性试验、失效分析、可靠性管理以及设计、生产和维护使用中的质量控制及可靠性保证等方面。本文对可靠性数学、可靠性试验、失效分析以及可靠性技术发展现状作一介绍。
%K 半导体器件
%K 可靠性数学
%K 可靠性试验
%K 失效分析
%K 可靠性技术
%K 质量控制
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=3723000AE493FCE650601982177048B1&aid=C3C7A20BF52A44CC&yid=D43C4A19B2EE3C0A&vid=B31275AF3241DB2D&iid=94C357A881DFC066&sid=708DD6B15D2464E8&eid=A04140E723CB732E&journal_id=1672-8785&journal_name=红外&referenced_num=0&reference_num=29