国外专利介绍

近红外可见光光子计数器美国专利US7202511 (2007年4月10日授权)在以前的可见光光子计数器中,本征杂质带探测器是根据硅的本征吸收原理制作的,它在0．4μm～1．0μm波长范围内具有较高的量子效率。而以前用硅掺砷材